绝缘电阻可靠性测试

- 目的：晶振在热带和亚热带高温高湿条件下的耐潮湿能力，以及晶振的绝缘性能在经受高温、潮湿等环境应力时，其绝缘电阻是否符合有关标准规定。

- 试验方式: 将晶振放置在温湿度85℃/85%RH，试验时间1000±12小时，实验结束后24±2小时内进行电性能测试。(参照GJB 360B 106/302）

- 测试对晶振的影响：晶体谐振器频率降低4ppm左右(5max)，谐振阻抗增大3Ω左右(5max)/±10%；晶体振荡器频率降低3.5ppm左右(5max)。