无源晶振测试参数：FR和FL

发布时间：2024-08-30 阅读次数：678次

石英晶体作为时间或频率基准源，其性能直接影响系统的稳定性和精度。了解串联谐振频率FR和负载谐振频率FL这两个关键参数，可以有效改善电路设计，确保系统在各种条件下稳定运行。

串联谐振频率 FR

FR(Series Resonant Frequency)是指晶振在没有外部负载电容的情况下，由晶体本身的机械和电气特性决定的自然振荡频率。

在 FR 时，晶振的等效电路表现为一个纯电阻，这时电路的阻抗最低，能量传输效率最高。它是晶体的固有频率，不受外部电路的负载电容影响。这个频率是晶体本身的特征，由晶体的几何结构，和材料性质决定。更多内容:《晶振电路原理-机械振动及等效电路》

负载谐振频率 FL

FL(Load Resonant Frequency)是晶振在25℃和特定负载电容条件下测出来的实际工作频率。FL也被称为调整频率或调整频差。

FL的值通常比FR大，因为负载电容引入了相移和改变了电路的共振条件。通常用ppm来表示负载电容对晶振频率的变化。FL误差值越小，越容易调整电路稳定性。常见问题: 《晶振频差不一样，可以替换吗？》

调整频差FL和负载电容CL的关系：

TS频率灵敏度表示晶振频率随着负载电容变化而产生的变化量，单位为ppm/pF。更多内容: 《晶振参数：G灵敏度和TS牵引值》

KOAN测试数据

S&A250B晶振测试设备中包含FL和FR参数的测试，《一篇文章读懂KOAN晶振测试报告》了解更多。以下为KOAN无源晶振KX70, 8MHz频率的实测数据:

FR为-152.16ppm
晶振的串联谐振频率FR比其标称频率低152.16ppm。这是晶振在无负载电容的情况下的频率偏差。这种偏差可能是由于晶振的制造误差、材料特性或温度变化引起的。

测试结果表明
尽管晶振的FR存在较大的偏差，但在负载条件下的FL稳定性良好。该晶振在实际工作条件下的性能较为稳定。尽量确保负载电容与晶振的设计负载电容匹配，以维持最佳性能。

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