晶振的寄生频率及测试参数

发布时间:2024-10-20 阅读次数:339

理想情况下,晶振应在基频或泛音模式下稳定工作。而在实际应用中,寄生振荡(Spur)可能会干扰主频信号导致主频发生偏移,有以下几点影响:

    1. 频率不稳定:主频信号受到干扰后,频率漂移

    2. 信号失真:输出波形失真并出现多频成分

    3. 设备性能下降:导致电子系统无法正常运行或发生误操作

    4. 降低信噪比:寄生振荡会引入额外噪声,从而影响信号质量。


寄生振荡的产生可能由以下因素引起:晶片杂质降低了晶振的Q值,影响频率的稳定性;外部电磁干扰或其他设备产生的辐射会影响晶振的正常运行,导致信号失真;此外,电路中的热噪声或其他信号杂质也可能激发低幅值的寄生频率,对系统性能造成干扰。S&A250B可以精准的分析频率的稳定性。寄生频率的测试参数如下:

    1. SPFL: 负载寄生振荡频率(Load Frequency of Spur)在特定负载条件下测的寄生频率。用于评估晶振在负载环境中的稳定性。

    2. SPFR: 串联谐振寄生振荡频率(Frequency of Spur)测量晶振在串联谐振模式下可能出现的寄生频率。还能计算主频与寄生频率之间的差值,帮助发现频率干扰问题。

    3. SPRL: 最大负载谐振寄生振荡阻抗(Max Spur Resistance at Load Frequency)表示在负载频率下测量到的最大寄生振荡阻抗。更高的阻抗意味着晶振在该频率下更为稳定。

    4. SPRR (SpurR/RR): 寄生振荡阻抗与主振荡阻抗之间的比值。比值越小,主频信号受寄生干扰的风险越小。

    5. SPUR (Min SpurR): 测量在特定频率范围内的最小寄生振荡阻抗,帮助检测晶振设计中的潜在问题。

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