无源晶振测试参数:FR和FL

发布时间:2024-08-30 阅读次数:755

石英晶体作为时间或频率基准源,其性能直接影响系统的稳定性和精度。了解串联谐振频率FR和负载谐振频率FL这两个关键参数,可以有效改善电路设计,确保系统在各种条件下稳定运行。


串联谐振频率 FR

FR(Series Resonant Frequency)是指晶振在没有外部负载电容的情况下,由晶体本身的机械和电气特性决定的自然振荡频率。

  • 等效电感L1: 由石英的机械质量决定的。
  • 等效电容C1: 由石英的硬度,电极面积,晶片的厚度和形状决定的。通常,较大的晶片,通常有较低的谐振频率。

在 FR 时,晶振的等效电路表现为一个纯电阻,这时电路的阻抗最低,能量传输效率最高。它是晶体的固有频率,不受外部电路的负载电容影响。这个频率是晶体本身的特征,由晶体的几何结构,和材料性质决定。更多内容:《晶振电路原理-机械振动及等效电路》

负载谐振频率 FL

FL(Load Resonant Frequency)是晶振在25℃和特定负载电容条件下测出来的实际工作频率。FL也被称为调整频率或调整频差。

FL的值通常比FR大,因为负载电容引入了相移和改变了电路的共振条件。通常用ppm来表示负载电容对晶振频率的变化。FL误差值越小,越容易调整电路稳定性。常见问题: 《晶振频差不一样,可以替换吗?

调整频差FL和负载电容CL的关系:

TS频率灵敏度表示晶振频率随着负载电容变化而产生的变化量,单位为ppm/pF。更多内容: 《晶振参数:G灵敏度和TS牵引值》

KOAN测试数据

S&A250B晶振测试设备中包含FL和FR参数的测试,《一篇文章读懂KOAN晶振测试报告》了解更多。以下为KOAN无源晶振KX70, 8MHz频率的实测数据:
  • FR为-152.16ppm
    晶振的串联谐振频率FR比其标称频率低152.16ppm。这是晶振在无负载电容的情况下的频率偏差。这种偏差可能是由于晶振的制造误差、材料特性或温度变化引起的。
  • FL为1.05ppm
    在特定负载电容条件下,晶振的频率相对于标称频率的偏差为1.05ppm。在负载电容的影响下,晶振的频率变化非常小,频率稳定性较好。
  • 测试结果表明
    尽管晶振的FR存在较大的偏差,但在负载条件下的FL稳定性良好。该晶振在实际工作条件下的性能较为稳定。尽量确保负载电容与晶振的设计负载电容匹配,以维持最佳性能。

KOAN晶振

我们提供无源晶振和有源晶振,覆盖多种规格尺寸,现货充足,以满足客户需求。我们的产品质量和技术处于行业领先水平。我们奉行精益求精、追求卓越、制造非凡、顾客满意的质量方针。公司致力于精细化质量管理,以满足客户对高端产品的需求。

  • 上一篇:晶振单端输出波形:TTL, CMOS, HCMOS, LVCMOS
  • 下一篇:晶振参数:G灵敏度和TS牵引值